| 专利名称 | 一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法 | 申请号 | CN201310035988.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103149153A | 公开（授权）日 | 2013.06.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 罗先刚;王长涛;赵泽宇;王彦钦;陶兴;黄成;蒲明薄;杨欢;刘利芹;杨磊磊 | 主分类号 | G01N21/17(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/17(2006.01)I | 专利有效期 | 一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法 至一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法，利用测试激发光栅、待测超衍射材料样品和检测光栅实现测试分析，其特点是：光源从激发光栅侧入射，产生多级携带高空间频率的衍射波，然后通过待测超衍射材料样品，样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测样品传输特性的干涉条纹。并可以通过旋转待测样品测试不同空间频率衍射波的透射光强或者干涉条纹对比度，以确定待测超衍射材料样品的光传输特性。本发明方法结构简洁，设计灵活，且测试方法便捷，实时性强。 |
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