| 专利名称 | 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置 | 申请号 | CN201310039844.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN103149955A | 公开（授权）日 | 2013.06.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 张志荣;董凤忠;夏滑;庞涛;吴边;王高璇;崔小娟 | 主分类号 | G05D23/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G05D23/24(2006.01)I;G01N21/25(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置 至一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置 | 法律状态 | 专利申请权、专利权的转移 | 说明书摘要 | 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置。包括：有光学路径系统的一次密封和温度稳定精确控制的二次密封系统。光学路径系统安装于一次密封壳体内部，其特征在于光学路径系统内集成有激光器，DFB激光器光源，光束汇聚准直透镜组，激光光路，光学腔，激光光束汇聚透镜，InGaAs探测器，以上部件均处于氮气氛围中避免外界气体的干扰。温度稳定精确控制的二次密封系统包括二次密封壳体，铂电阻温度传感器，刚性支架，半导体制冷堆，网状热交换器，风扇，减震泡沫，以及置于二次密封壳体外的温度控制器，驱动电路模块，各种控制命令及电信号均通过电缆进行密封连接。本发明具有结构简单、操作方便、响应快速、抗震性好、温度控制精度高、稳定性好的优点。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障