专利名称 | 光束斯托克斯参量测量装置 | 申请号 | CN201220244241.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开(公告)号 | CN202648799U | 公开(授权)日 | 2013.01.02 | 申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 汤飞龙;李中梁;王向朝;步扬;曹绍谦 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 光束斯托克斯参量测量装置 至光束斯托克斯参量测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种光束斯托克斯参量测量装置,该偏振测量装置由分光棱镜组、相位延迟器阵列、检偏器、光电探测器阵列以及信号处理系统组成,光电探测器阵列各单元与相位延迟器阵列各单元一一对应。本实用新型可以对光束斯托克斯参量实时测量,减小了相位延迟器件的相位延迟量误差、快轴方向误差和检偏器的透光轴方向误差、消光比误差对光束偏振态测量精度的影响。 |
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