| 专利名称 | 一种薄膜粘附力测量系统 | 申请号 | CN201110342244.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102507438A | 公开（授权）日 | 2012.06.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院力学研究所 | 发明（设计）人 | 赵亚溥;王斌斌;王子千;左鹏 | 主分类号 | G01N19/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N19/04(2006.01)I | 专利有效期 | 一种薄膜粘附力测量系统 至一种薄膜粘附力测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种薄膜粘附力测量系统，包括：薄膜粘附单元，用于粘附待测薄膜；夹持单元，用于夹持粘附在所述薄膜粘附单元上的薄膜的一端；移动单元，用于控制所述夹持单元沿所述薄膜的长度方向和/或与所述薄膜表面相垂直的方向移动；拉力测量单元，设置在所述夹持单元上，用于测量夹持单元夹持住所述待测薄膜一端并向预定方向将所述薄膜从所述薄膜粘附单元拉起的过程中，所述夹持单元受到所述薄膜的拉力。本发明通过移动单元控制夹持单元可沿薄膜的长度方向和与薄膜表面相垂直的方向移动，并在移动的过程中通过拉力测量单元测量夹持单元所受到的拉力，也就是薄膜粘附在薄膜粘附单元表面的粘附力，就能够实现在预定的路径上测量薄膜的粘附力。 |
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