| 专利名称 | 用于全数字锁相环的锁定检测方法及装置 | 申请号 | CN200910311790.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102104378A | 公开（授权）日 | 2011.06.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明（设计）人 | 田欢欢;张海英 | 主分类号 | H03L7/085(2006.01)I | IPC主分类号 | H03L7/085(2006.01)I | 专利有效期 | 用于全数字锁相环的锁定检测方法及装置 至用于全数字锁相环的锁定检测方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种用于全数字锁相环的锁定检测方法，包括以下步骤：当全数字锁相环进入动态锁定状态时，将全数字锁相环的相位误差信号或数字控制振荡器控制字记录在寄存器阵列中；统计寄存器阵列中每个寄存器中的值；计算寄存器阵列的不相等数，其中，当寄存器阵列中的值全相等时，不相等数等于0，否则相等数等于col(1，m)*col(1，n)；以及根据不相等数生成锁定信号，以确定全数字锁相环是否锁定，其中，当寄存器阵列中的值不全相等时，寄存器阵列的每个寄存器中的值为第一值或第二值，以及其中，m，n是正整数，m表示其值为第一值的寄存器是数量，以及n表示其值为第二值的寄存器是数量。本发明还提供了一种用于全数字锁相环的锁定检测装置。本发明能够实现对锁相环的锁定进行检测。 |
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