| 专利名称 | 双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法 | 申请号 | CN201210367038.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102853766A | 公开（授权）日 | 2013.01.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院云南天文台 | 发明（设计）人 | 杨磊;程向明;苏婕;陈林飞;王建成;李彬华;冒蔚;铁琼仙 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法 至双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 双码盘检测经纬仪高度轴轴端偏摆的方法，属于天文技术领域，解决了现有测量经纬仪高度轴偏摆的轴准直仪结构复杂、数据处理周期长的问题，包括以下步骤：步骤1，在经纬仪的高度轴的两端，分别设置一号码盘和二号码盘，在每支码盘相应的叉臂上分别设置两对呈对径正交分布的读数头；步骤2，采集望远镜指向各预设天顶距时，各对径读数头的读数之差，建立各预设天顶距与各对径读数头的读数之差的回归模型；步骤3，对观测待测星体时高度轴轴端偏摆的实时测算。本发明方法中的光栅码盘的测量结果是数字量，因此大大提高了高度轴线摆动量测量的效率，可以实现实时测定。 |
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