| 专利名称 | 闪烁体性能测量装置 | 申请号 | CN201110195923.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102353976A | 公开（授权）日 | 2012.02.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 李道武;陈研;章志明;黄先超;廖燕飞;帅磊;柴培;朱美玲;张玉包;舒岩峰;唐浩辉;李婷;魏龙;王宝义;单保慈 | 主分类号 | G01T1/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/20(2006.01)I | 专利有效期 | 闪烁体性能测量装置 至闪烁体性能测量装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种闪烁体性能测量装置，该装置包括机械盒体、供电设备、光探测器件、前置放大模块、数字采集板和闪烁体装配架，所述闪烁体装配架装载待测量闪烁体，该闪烁体装配架放置于所述光探测器件上；所述光探测器件探测待测量闪烁体；所述前置放大模块将所述光探测器件获得信号进行放大；所述数字采集板将放大的信号数字化，根据该数字化后的信号获得每个待测量闪烁体相对于所述标定闪烁体的光输出。通过上述装置就能够单次完成大量闪烁体性能的测量，并可以完成由多个闪烁体组成的阵列中每个闪烁体性能的测量，测量结果更加精确，且操作方便，占用空间小，易于携带和搬运，大大节省了测试时间。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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