基于微纳米尺度热检测的非线性放大器

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专利名称 基于微纳米尺度热检测的非线性放大器 申请号 CN200910198451.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102053170A 公开(授权)日 2011.05.11 申请(专利权)人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明(设计)人 曾华荣;殷庆瑞;惠森兴;赵坤宇;李国荣 主分类号 G01Q60/24(2010.01)I IPC主分类号 G01Q60/24(2010.01)I;G01N25/00(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I 专利有效期 基于微纳米尺度热检测的非线性放大器 至基于微纳米尺度热检测的非线性放大器 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明涉及一种基于微纳米尺度热检测的非线性放大器,用于原子力显微镜热学成像系统,包括热传感回路、前端信号处理器和非线性检测器,热传感回路接收被测信号,输出所述被测信号的3倍频参考信号和基波信号的电压信号;前端信号处理器对所述3倍频参考信号进行放大;非线性检测器对被测信号和3倍频的参考信号进行相关检测模块,得到与被测样品热导率相关的信号。本发明利用探测元件的非线性特性,有效地增强了被测信号中的谐波分量,提高了信号的质量;利用信号处理技术,加强抗干扰能力,提高了检测灵敏度;结构紧凑,适于与系统中其他仪器和装置相匹配。由此,解决了微纳米尺度热成像中非线性检测这一重要技术难题。

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