| 专利名称 | 大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201010568739.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102062678A | 公开（授权）日 | 2011.05.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张春香;朱宝强;唐顺兴;缪洁;高妍琦;惠宏超;郭亚晶 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 至大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法，装置由光学系统、光电转换和机械控制系统及信号处理系统构成。光学系统包括固体激光器、起偏器、用于调整光路和预成像的可见光光源及其扩束系统、分光棱镜和衰减片；光电转换和机械控制系统包括光电探测器、科学级网络CCD和元件支撑平台；信号处理系统由数据采集卡、网线和计算机组成。科学级网络CCD实现所述光电探测器上光斑位置的监测，反馈调整探测器至最佳位置，同时也监测反射或透射光束的宏观分布图，反映反射率或透射率的均匀性。本发明装置和方法具有结构简易、调整方便、效率和精度高的特点，重复测量精度达到0.05％。 |
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