| 专利名称 | 结核分支杆菌耐药性检测芯片及其制作方法和应用方法 | 申请号 | CN01105981.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1311435 | 公开（授权）日 | 2001.09.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海冶金研究所 | 发明（设计）人 | 赵建龙;景奉香;胡忠义;孙斌;孙悦;徐元森 | 主分类号 | G01N33/50 | IPC主分类号 | G01N33/50;G01N33/52;G01N33/53;G01N33/58 | 专利有效期 | 结核分支杆菌耐药性检测芯片及其制作方法和应用方法 至结核分支杆菌耐药性检测芯片及其制作方法和应用方法 | 法律状态 | 公开 | 说明书摘要 | 本发明涉及结核分支杆菌耐药性检测芯片及其 制作方法和应用方法,主要是根据已知的结核分支杆菌耐利福 平、异烟肼等的基因突变信息,设计相应的结核分支杆菌耐药性 寡核苷酸探针,然后将合成的探针固定在经修饰的玻片上,从而 构成结核分支杆菌耐药性检测芯片,利用设计的相应引物将结 核分支杆菌DNA样品扩增并加入荧光标记处理以后,与芯片杂 交,然后用芯片信号分析系统扫描芯片,并对杂交信号进行分析, 获得有关结核分支杆菌的耐药性信息。 |
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