| 专利名称 | 一种监测高反射光学元件在激光辐照下反射率实时变化的方法 | 申请号 | CN201110097943.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102252828A | 公开（授权）日 | 2011.11.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 李斌成;曲哲超;韩艳玲 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种监测高反射光学元件在激光辐照下反射率实时变化的方法 至一种监测高反射光学元件在激光辐照下反射率实时变化的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种监测高反射光学元件在激光辐照下反射率实时变化的方法，由与待测光学元件同波段的高反射镜组成一个初始光学谐振腔，将探测激光束入射到该光学谐振腔，记录探测激光束的衰荡时间τ0；将待测光学元件插入初始光学谐振腔，构成测试光学谐振腔。将辐照激光束聚焦到待测光学元件表面探测激光束位置，不断增加辐照激光能量密度或辐照时间或辐照脉冲次数，同时记录不同辐照激光能量密度或辐照时间或辐照脉冲次数下探测激光束衰荡时间τ(n)，从而可得在不同辐照激光能量密度或辐照时间或辐照脉冲次数情况下，待测高反射光学元件反射率实时变化情况。本发明简单，测量灵敏度高且实用性强。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障