| 专利名称 | 可调节的频域光学相干层析成像方法及其系统 | 申请号 | CN200910200843.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101750146A | 公开（授权）日 | 2010.06.23 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 郭昕;步鹏;王向朝 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01J3/12(2006.01)I;G01J3/18(2006.01)I | 专利有效期 | 可调节的频域光学相干层析成像方法及其系统 至可调节的频域光学相干层析成像方法及其系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种探测深度范围和深度分辨率可调节的频域光学相干层析成像方法及其系统，将变周期光栅用于频域光学相干层析成像，通过调节光栅周期和探测器的横向位置，改变频域干涉信号的光谱探测宽度和光谱探测分辨率，从而实现探测深度范围和深度分辨率可调节的频域光学相干层析成像。本发明既能配合大谱宽光源的使用，解决谱宽较大时探测器像素阵列长度受限的问题，又能满足使用者希望获得更大探测深度范围或是更高深度分辨率的不同成像需求。 |
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