| 专利名称 | 表面等离子体谐振测试仪 | 申请号 | CN98102366.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN1238448 | 公开（授权）日 | 1999.12.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 崔大付;周力夫 | 主分类号 | G01H3/10 | IPC主分类号 | G01H3/10 | 专利有效期 | 表面等离子体谐振测试仪 至表面等离子体谐振测试仪 | 法律状态 | 实质审查请求的生效 | 说明书摘要 | 表面等离子体谐振测试仪，包括控制系统、光学 系统、机械运动结构、角度信号处理电路、光信号处理电路， 所说的机械运动结构包括光学平台2，安装在光学平台上的连 杆组3，螺杆6一端接有滑块4，另一端与电机7连接，在滑 块4下有一导轨5，拉杆9一端连接滑块4，另一端连接连杆 组3，角位移传感器8安装在螺杆6上。本发明不仅可应用于 研究金属薄膜光学特性和LB膜的分子结构、光学常数等，还 可用作传感器对生物、化学量的测量。 |
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