| 专利名称 | 一种磁声显微成像方法及成像系统 | 申请号 | CN201210262464.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102788836A | 公开（授权）日 | 2012.11.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 夏慧;刘国强;黄欣;王霜;陈晶 | 主分类号 | G01N27/72(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/72(2006.01)I;A61B5/053(2006.01)I;A61B8/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种磁声显微成像方法及成像系统 至一种磁声显微成像方法及成像系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种磁声显微成像方法，对置于静磁场中的导电目标成像体施加脉冲激励，在导电目标成像体中产生感应涡流，感应涡流和静磁场共同作用产生洛伦兹力，导致成像体内质点的振动而产生超声信号；在声透镜的焦平面上采用阵列超声探头接收导电目标成像体内各个质点的超声信号的像信号，把接收到的导电目标成像体内各质点的像信号进行成像，则各质点像信号正比于导电目标成像体内对应点的洛仑兹力散度，根据阵列超声探头检测到的超声信号的像信号，便可得到导电目标成像体的洛伦兹力散度图像或根据电流密度旋度的重建图像。应用本发明成像方法的磁声显微成像系统，包括同步触发及控制模块（1）、激励源、成像系统和微弱信号检测系统。 |
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