电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法

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专利名称 电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法 申请号 CN201010515241.1 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN102043011A 公开(授权)日 2011.05.04 申请(专利权)人 中国科学院计算技术研究所 发明(设计)人 孙瑞祥;董梦秋;宋春青;迟浩;杨兵;王乐珩;付岩;贺思敏 主分类号 G01N27/62(2006.01)I IPC主分类号 G01N27/62(2006.01)I 专利有效期 电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法 至电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明提供一种电子转运裂解质谱预处理方法,包括:计算母离子的质荷比和电荷状态;计算母离子峰及其同位素峰在电子转运裂解质谱中可能出现的区域;计算母离子的系列衍生峰在电子转运裂解质谱中可能出现的区域;计算母离子的中性丢失峰在电子转运裂解质谱中可能出现的区域;将所述电子转运裂解质谱中由计算得到的区域中的谱峰去除,以去除未碎裂的母离子峰、母离子的系列衍生峰以及母离子的中性丢失峰。

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