专利名称 | 电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法 | 申请号 | CN201010515241.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开(公告)号 | CN102043011A | 公开(授权)日 | 2011.05.04 | 申请(专利权)人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明(设计)人 | 孙瑞祥;董梦秋;宋春青;迟浩;杨兵;王乐珩;付岩;贺思敏 | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/62(2006.01)I | 专利有效期 | 电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法 至电子转运裂解质谱预处理与鉴定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种电子转运裂解质谱预处理方法,包括:计算母离子的质荷比和电荷状态;计算母离子峰及其同位素峰在电子转运裂解质谱中可能出现的区域;计算母离子的系列衍生峰在电子转运裂解质谱中可能出现的区域;计算母离子的中性丢失峰在电子转运裂解质谱中可能出现的区域;将所述电子转运裂解质谱中由计算得到的区域中的谱峰去除,以去除未碎裂的母离子峰、母离子的系列衍生峰以及母离子的中性丢失峰。 |
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