| 专利名称 | 基于光强调制器的远场光束质量测量装置 | 申请号 | CN201010535514.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102042874A | 公开（授权）日 | 2011.05.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 黄林海;饶长辉;姜文汉 | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 专利有效期 | 基于光强调制器的远场光束质量测量装置 至基于光强调制器的远场光束质量测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是基于光强调制器的远场光束质量测量装置，由成像系统、光强调制器、光强探测器和计算机组成。光束首先通过成像系统，汇聚于光强调制器处，经光强调制器后的光将进入光强探测器，并由光强探测器捕获，最终由光强探测器通过计算机输出用以反映光束质量的数值。利用光强探测器结合光强调制器的形式测量光束质量，具有结构简单、制作容易、速度快，响应灵敏度高、探测精度高等特点；可作为高速自适应光学系统进行实时闭环的性能评判指标。 |
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