| 专利名称 | 一种用于超高真空测试的送样装置 | 申请号 | CN201110141894.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102809661A | 公开（授权）日 | 2012.12.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 徐长有;赵世柯;邓峰 | 主分类号 | G01N35/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N35/10(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于超高真空测试的送样装置 至一种用于超高真空测试的送样装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种用于超高真空测试的送样装置，涉及真空测试技术，包括真空罐、样品座、样品固定销钉、送样杆、样品连接杆、连接螺钉、样品连接头、插板阀；真空罐主体轴向一端为观察窗，径向有垂直腔、水平腔，水平腔中部有插板阀；插板阀左侧为超高真空区，右侧为低真空区，两真空区有抽气装置；待测样品由样品固定销钉固定在样品座上表面，连接螺钉将左侧的样品连接杆与样品连接头可分开的固接，样品座与样品连接头固接，位于真空腔内；样品连接杆、样品连接头、样品座、送样杆成一字水平设置，共轴线。本发明的用于超高真空测试的送样装置，结构简单，易于制造，送样可靠，可应用于各种真空测试与分析设备。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障