| 专利名称 | 采用激光跟踪仪检测离轴非球面偏心量的方法 | 申请号 | CN201210370393.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102879182A | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 李锐钢;张斌智;王孝坤;郑立功;张学军 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 采用激光跟踪仪检测离轴非球面偏心量的方法 至采用激光跟踪仪检测离轴非球面偏心量的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 采用激光跟踪仪检测离轴非球面偏心量的方法，涉及光学非球面制造过程中精确控制偏心量的方法，它解决现有方法对光学表面的检测精度和可靠性低、难于实现大口径元件测量，并且无法测量离轴非球面元件偏心量的问题，本发明方法首先用激光跟踪仪测量补偿器的基准面信息，通过计算获得光轴基准数据；然后用激光跟踪仪测量待检非球面的基准面信息，通过计算获得非球面中心的实测数据；最后与光轴基准相比较得到偏心量数据。本发明所述的方法操作简便、数据处理简明、通用性好。 |
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