| 专利名称 | 一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法 | 申请号 | CN201210198965.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102735348A | 公开（授权）日 | 2012.10.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 王帅;许冰;杨平;董理治;刘文劲;雷翔;晏虎 | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法 至一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明是一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法，利用哈特波前传感器中阵列型光电探测器所探测到的光斑阵列图像，获得每个光斑的强度分布信息和相对于标定时的质心位置偏移量，根据质心偏移量，可求出对应子孔径内子波前的倾斜像差信息，再根据光斑的强度分布信息，用相位反演算法可以求出对应子孔径内子波前的离焦、象散等高阶像差信息，两者结合构成子波前，最终用波前重构方法或波面拼接方法将各个子波前重构成整个孔径波前信息；本发明将原本困扰光斑质心计算的光斑弥散分布信息加以利用，获得子孔径内子波前更多的信息量，使其有利于提高哈特曼波前传感器的波前探测精度或降低对子孔径数量的要求。 |
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