| 专利名称 | 针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法及装置 | 申请号 | CN201210216938.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102721824A | 公开（授权）日 | 2012.10.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院力学研究所 | 发明（设计）人 | 宋宏伟;黄晨光;王健;魏延鹏;吴先前 | 主分类号 | G01P3/36(2006.01)I | IPC主分类号 | G01P3/36(2006.01)I | 专利有效期 | 针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法及装置 至针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法及装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种针对具有低速且高加速度特征的质点速度测量方法及装置，对于速度为100～101m/s量级，并且加速度在109m/s2以上量级的质点表速度，本发明采用光纤激光多普勒干涉测速硬件系统与采用特定流程的短时傅里叶变换或连续小波变换时频变换数据处理相结合的方法，实现具有上述特征运动靶面质点速度的高时间分辨率和速度分辨率测试，其中时间分辨率为0.2ns，速度精度为误差不超过0.1%。而且，本发明可以同时测试多路质点速度，测试效率高，成本较低，易于实现。 |
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