| 专利名称 | 一种测量非线性晶体热功率大小的装置 | 申请号 | CN201010257008.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101949871A | 公开（授权）日 | 2011.01.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院半导体研究所 | 发明（设计）人 | 熊波;李晋闽;林学春;侯玮;郭林;陈然;马建立;农光壹 | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N25/20(2006.01)I;G01R21/04(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测量非线性晶体热功率大小的装置 至一种测量非线性晶体热功率大小的装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种测量非线性晶体热功率大小的装置，包括非线性晶体、温度传感器、智能模块、控温电源、控温炉和示波器。非线性晶体放置于控温炉内部，工作于某一设定的温度T1条件下，起到激光变频的作用；温度传感器用于测量非线性晶体的实际工作温度T0，并将该值反馈给智能模块；智能模块用于将温度传感器测量到的非线性晶体的实际工作温度T0与设定的温度T1比较，据此调节控温电源向控温炉输出的加热电压，将非线性晶体控制于设定的工作温度T1下；控温炉采用加热丝作为加热元件；温度传感器、智能模块、控温电源和控温炉构成控温系统，示波器实时测量控温电源向控温炉输出的加热电压的波形W。利用本发明，实现了非线性晶体热功率大小的测量。 |
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