| 专利名称 | 偏振检测装置中器件误差的测量方法 | 申请号 | CN201010268324.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101936774A | 公开（授权）日 | 2011.01.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李中梁;王向朝;唐锋 | 主分类号 | G01J4/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/04(2006.01)I | 专利有效期 | 偏振检测装置中器件误差的测量方法 至偏振检测装置中器件误差的测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种偏振检测装置中器件误差的测量方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，其特点在于，斯托克斯参数已知的线偏振光入射至所述的偏振检测装置，设定第一次测量的初始状态并进行测量；设定第二次测量的初始状态并进行测量，第二次测量的初始状态是在第一次测量的初始状态的基础上，分别旋转相位延迟器件和检偏器一定的角度，满足检偏器的旋转角度为相位延迟器件旋转角度的2倍，且旋转方向相同，对测量进行数据处理获得器件的误差。本发明在无需拆卸偏振检测装置器件的情况下，可快速测量相位延迟器件和检偏器的各类误差。 |
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