| 专利名称 | 绝对位置测量装置 | 申请号 | CN201210088517.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102607417A | 公开（授权）日 | 2012.07.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 吴宏圣;孙强;张吉鹏;续志军;李贺军 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 绝对位置测量装置 至绝对位置测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种绝对位置测量装置，该装置的光源发出的平行光将编码单元的位置编码信号投影在光探测器上；光探测器的线阵A和线阵B同时扫描编码单元的同一组位置编码信号；线阵A获得的A路位置编码信号由信号处理单元的A路信号采集模块采集，再由A路位置译码模块进行位置译码并判断译码结果是否正确；线阵B获得的B路位置编码信号由信号处理单元的B路信号采集模块采集，再由B路位置译码模块进行位置译码并判断译码结果是否正确；位置码校验模块对A路和B路译码结果进行校验，如果二者都正确或者只有A路正确，取A路译码结果为最终位置数据；只有B路正确，取B路译码结果为最终位置数据。本发明位置测量可靠性高。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
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