| 专利名称 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 | 申请号 | CN201210079324.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102636272A | 公开（授权）日 | 2012.08.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘军;李方家;李儒新 | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J11/00(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 至基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置，本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱，利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位，从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单，计算速度快的特点，不需要偏振光学元件，减少了入射激光色散，可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲；本发明可进行单次脉冲测量，可用于飞秒激光脉冲的实时监测，获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置，可优化飞秒激光脉冲输出。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障