| 专利名称 | 一种基于量子点电致发光原理的辐射剂量测量方法 | 申请号 | CN201210089592.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102628951A | 公开（授权）日 | 2012.08.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 祝庆军;陈学勇;宋钢;吴宜灿 | 主分类号 | G01T1/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01T1/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于量子点电致发光原理的辐射剂量测量方法 至一种基于量子点电致发光原理的辐射剂量测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于量子点电致发光原理的辐射剂量测量方法，通过图像采集系统采集辐射场中基于量子点的电致发光系统的电致发光信号，并经过处理和修正后，得到电致发光信号强度。再根据电致发光信号强度与辐射剂量的函数关系，得到辐射剂量信息。本发明提出了辐射剂量测量的新方法，有效改善了辐射剂量测量结果的空间、时间分辨性。本发明既可用于稳态辐射场剂量监测，也可用于脉冲辐射场剂量监测；能够获得辐射剂量的二维或三维分布的实时信息，能够获得空间分辨达到微米量级的辐射剂量信息。 |
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