| 专利名称 | 辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置 | 申请号 | CN201210132427.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102879645A | 公开（授权）日 | 2013.01.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院等离子体物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘亮;刘甫坤;单家方;杨永;王茂;贾华;程敏 | 主分类号 | G01R25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置 至辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种辐射端面为曲面的低杂波天线相位测量装置，包括有依次相连接的隔直器、陶瓷窗一、真空波导、陶瓷窗二、真空波导二、过渡波导、直波导和天线单元，还包括有子波导引出模块、两个波导同轴转换器、矢量网络分析仪和若干波导匹配负载；子波导引出模块包括底盘、引出波导和过渡波导，将引出波导装入天线单元的某一路子波导中，若干波导匹配负载分别装入其余各子波导中，子波导引出模块通过法兰与波导同轴转换器一连接，波导同轴转换器与矢量网络分析仪相连，矢量网络分析仪连接波导同轴转换器二，波导同轴转换器二再连接隔直器。本发明可以对辐射端面为曲面的低杂波天线进行相位测量，不需要计算，直接测出相位本底数据，有结构简单，精确度高，误差小的优点。 |
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