| 专利名称 | 基于远场性能指标的自适应光学系统标定装置 | 申请号 | CN200910241233.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101718590A | 公开（授权）日 | 2010.06.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 黄林海;饶长辉;姜文汉 | 主分类号 | G01J9/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J9/00(2006.01)I;G01J9/02(2006.01)I | 专利有效期 | 基于远场性能指标的自适应光学系统标定装置 至基于远场性能指标的自适应光学系统标定装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 基于远场性能的自适应光学系统标定装置，由自适应光学系统，光斑性能指标评估器，波前记录器组成。光束首先通过传统自适应光学系统，而后汇聚于成像焦面处，光斑性能指标评估器(探测)计算焦面处光束质量并输出相应的性能指标，根据输出的性能指标控制自适应光学系统中的波前校正器进行闭环，使光斑性能指标评估器输出的性能指标达到设定的目标，最后，由波前记录器记录下达到设定目标时自适应光学系统中波前探测器的波前数据，并以记录的波前探测器波前数据为自适应光学系统闭环最终目标。以成像焦面处光斑为校正标准，可以减低波前探测器后续光路，尤其是成像透镜的设计要求，提高自适应光学的校正效果。 |
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