一种在绝缘层中嵌入纳米晶的半导体材料制备方法

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专利名称 一种在绝缘层中嵌入纳米晶的半导体材料制备方法 申请号 CN201010211448.X 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101901754A 公开(授权)日 2010.12.01 申请(专利权)人 上海新傲科技股份有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 魏星;王湘;李显元;张苗;王曦;林成鲁 主分类号 H01L21/20(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/20(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I 专利有效期 一种在绝缘层中嵌入纳米晶的半导体材料制备方法 至一种在绝缘层中嵌入纳米晶的半导体材料制备方法 法律状态 著录事项变更 说明书摘要 本发明提供了一种在绝缘层中嵌入纳米晶的半导体材料制备方法,包括如下步骤:提供支撑衬底与器件衬底;在支撑衬底或器件衬底的表面生长绝缘层;在绝缘层中注入纳米晶改性离子;通过绝缘层将支撑衬底与器件衬底键合在一起;实施键合后的退火加固。本发明的优点在于,通过对工艺顺序的巧妙调整,在不影响其他工艺的前提下,将形成纳米晶所采用的离子注入的步骤调整在键合之前实施的,从而不会影响到器件层的晶格完整性,提高了所制备的SOI材料的晶体质量。

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