| 专利名称 | 一种故障诊断系统及方法 | 申请号 | CN200910237064.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101710359 | 公开（授权）日 | 2010.05.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 叶靖;胡瑜;李晓维 | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | IPC主分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 专利有效期 | 一种故障诊断系统及方法 至一种故障诊断系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种故障诊断系统及方法。该故障诊断方法，用于诊断出数字集成电路中的故障位置，包括：步骤1，为每个失效向量建立一个能够解释该失效向量的故障元组等价树；步骤2，为故障元组等价树中的潜在故障打分；步骤3，依据故障元组等价树中的潜在故障打分结果，从各潜在故障中选择最有可能是发生故障的位置加入最终候选故障位置集合；步骤4，从故障元组等价树中删除与最终候选故障位置集合中的故障等价的或可以被其解释的故障元组。本发明在没有任何面积和布线开销，不需要加载新的诊断向量的情况下对发生多个任意故障模型的组合逻辑故障进行诊断，并且不改变传统的组合逻辑故障诊断流程。 |
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