电子设备使用环境腐蚀性的检测方法及相应的电子设备

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专利名称 电子设备使用环境腐蚀性的检测方法及相应的电子设备 申请号 CN200810119525.1 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101666737 公开(授权)日 2010.03.10 申请(专利权)人 联想(北京)有限公司 发明(设计)人 王军 主分类号 G01N17/00(2006.01)I IPC主分类号 G01N17/00(2006.01)I 专利有效期 电子设备使用环境腐蚀性的检测方法及相应的电子设备 至电子设备使用环境腐蚀性的检测方法及相应的电子设备 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开一种电子设备使用环境腐蚀性的检测方法,包括:实时检测 一探测部件的腐蚀情况,获得所述探测部件的待比较腐蚀值,所述待比较腐 蚀值用于表征所述探测部件被腐蚀的程度,所述探测部件设置在所述电子设 备的使用环境中,所述探测部件所用材料的耐腐蚀性能小于或等于所述电子 设备中电子元件焊料的耐腐蚀性能;将所述待比较腐蚀值与一预设腐蚀阀值 进行比较,获得一腐蚀程度比较结果;所述腐蚀程度比较结果显示所述待比 较腐蚀值大于或等于所述预设腐蚀阀值时,产生一用于表征所述电子设备使 用环境中发生被腐蚀事件的提示信息。通过实时检测电子设备使用环境中的 被腐蚀事件,便于采取应对措施,防止系统故障。本发明还提供一种相应的 电子设备。

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