| 专利名称 | 一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统 | 申请号 | CN201220104025.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202661173U | 公开（授权）日 | 2013.01.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 杨世骥;王建宇;贾建军;舒嵘;何志平;吴金才;江昊 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统 至一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统，它由高重频窄脉冲激光源、衰减片、分光棱镜、透射式目标模块、反射式目标模块、检偏器及旋转电机组件、第一单光子探测器、一维电动平台、第二单光子探测器、单光子计数器、电机控制器和计算机组成，特别适用于自动化测量的场合。该专利基于光学偏振原理，采用双光路补偿、单光子探测等技术，设计合理可行的光机结构，利用计算机自动控制各旋转电机和电动平台，最终实现自动化测量目标对单光子偏振态影响的目的。 |
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