使用复合结构二极管的相变存储器单元及制备方法

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专利名称 使用复合结构二极管的相变存储器单元及制备方法 申请号 CN200910196237.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN101673755 公开(授权)日 2010.03.17 申请(专利权)人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明(设计)人 李宜瑾;凌云;宋志棠;封松林 主分类号 H01L27/24(2006.01)I IPC主分类号 H01L27/24(2006.01)I;H01L29/861(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/82(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I 专利有效期 使用复合结构二极管的相变存储器单元及制备方法 至使用复合结构二极管的相变存储器单元及制备方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明属于微电子技术领域,公开了一种使用复合结构二极管的相变存储器 单元及制备方法。所述相变存储器单元由复合结构二极管与存储单元构成。其基 本特征在于:使用了复合结构的二极管作为相变存储器的选通二极管,此二极管 由四层不同特性的半导体材料组成,通过离子注入、固相外延或者化学气相沉积 的方法制备。该方法制备的复合结构的二极管有产生的干扰电流小、驱动电流大 的特点,同时本发明的结构适用于高密度的相变存储器,采用CMOS工艺,成本 低。

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