| 专利名称 | 一种片上通路时延测量电路及方法 | 申请号 | CN200910236848.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101706553 | 公开（授权）日 | 2010.05.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院计算技术研究所 | 发明（设计）人 | 裴颂伟;李华伟;李晓维 | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/28(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种片上通路时延测量电路及方法 至一种片上通路时延测量电路及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种片上通路时延测量电路及方法。所述测量电路，包括多级测量单元，并且从最后一级测量单元到第一级测量单元，每级测量单元的测量分辨率以2的倍数递增；每一级测量单元，包括：第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器、第四多路选择器、上升沿敏感触发器、第一时延单元、第二时延单元、第三时延单元和第四时延单元，以及第五时延单元和第六时延单元。 |
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