| 专利名称 | 一种预测多注速调管存储故障的方法 | 申请号 | CN200910082794.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101706549 | 公开（授权）日 | 2010.05.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明（设计）人 | 丁耀根;丁海兵;徐旭哲 | 主分类号 | G01R31/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/25(2006.01)I | 专利有效期 | 一种预测多注速调管存储故障的方法 至一种预测多注速调管存储故障的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种预测多注速调管存储故障的方法，涉及电真空器件技术，是对存放40～45天的无离子泵多注速调管的阴极发射特性进行测量，按取样时间间隔15秒纪录初始3分钟内阴极发射电流值，绘出阴极发射电流值随时间变化的曲线，若阴极发射电流值随时间的变化曲线出现先下降而后上升的现象，并且下降的比例超过额定值的10％，则可预测该器件经过半年以上的存放后，出现存储故障的概率大于60％。本发明方法适合不带有离子泵的多注速调管，也可推广到无离子泵速调管、无离子泵行波管等其他无离子泵微波电真空器件。 |
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