| 专利名称 | 轴锥镜面形的测量装置和测量方法 | 申请号 | CN201210431104.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102901463A | 公开（授权）日 | 2013.01.30 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 袁乔;曾爱军;张善华;黄惠杰 | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 专利有效期 | 轴锥镜面形的测量装置和测量方法 至轴锥镜面形的测量装置和测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种轴锥镜面形的测量装置和测量方法，该装置由移相干涉仪、平面标准镜、聚焦透镜和平面反射镜组成，其位置关系是：沿所述的移相干涉仪出射光束前进方向依次是所述的平面标准镜、聚焦透镜和平面反射镜，在所述的平面标准镜和聚焦透镜之间设置待测轴锥镜的插口。本发明具有装置结构简单、测量方法操作方便的特点。 |
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