| 专利名称 | 强度关联远场无透镜成像装置 | 申请号 | CN200910195346.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101701903 | 公开（授权）日 | 2010.05.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 韩申生;龚文林;张鹏黎;沈夏 | 主分类号 | G01N21/01(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I | 专利有效期 | 强度关联远场无透镜成像装置 至强度关联远场无透镜成像装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种强度关联远场无透镜成像装置，特点是该装置包括热光源、沿该热光源发出的光束的前进方向设有分光棱镜，在该分光棱镜的透射光束方向依次是置于远场的待测物体和位于该待测物体反射方向的点探测器；在该分光棱镜的反射光束方向是置于远场的参考光路面探测器，所述的点探测器和参考光路面探测器的输出端同时连接执行数据采集和进行强度关联运算的计算机，所述的热光源、点探测器和参考光路面探测器同时由一个同步信号发生器同步触发控制同时工作。通过对物光路和参考光路探测器记录的强度信息进行关联运算，可获得待测物体的实空间像。 |
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