| 专利名称 | 用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法 | 申请号 | CN201010612523.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102168944A | 公开（授权）日 | 2011.08.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王渤帆;李中梁;王向朝;步扬 | 主分类号 | G01B9/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B9/02(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I;G01S17/32(2006.01)I | 专利有效期 | 用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法 至用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法，该双频激光干涉仪的结构包括光源、光纤耦合器、隔离器、准直器、光电探测器、压电陶瓷、数据采集卡和计算机。所述的光源是两个波长不相等的半导体激光器，且带有光源控制器；光电探测器将接收到的干涉信号转换成电信号输入到数据采集卡内，并通过计算机进行数据处理得到待测距离。本发明干涉仪将线性调频技术与正弦相位调制干涉测量技术相结合，扩大了测量范围，利用相关参数通过求解线性方程组计算干涉信号的相位，从原理上消除了光源的光强调制引起的系统误差，提高了测量精度。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障