| 专利名称 | 一种多功能离子导体电学性能测试装置 | 申请号 | CN200810059618.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101498755 | 公开（授权）日 | 2009.08.05 | 申请（专利权）人 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | 发明（设计）人 | 王建新;王蔚国;王丽琴;陶有堃;邵静;何长荣;牛金奇 | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种多功能离子导体电学性能测试装置 至一种多功能离子导体电学性能测试装置 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种多功能离子导体电学性能测试装置，包括有样品室、样品架总成，其特征在 于：样品架总成包括数个中空的支撑管、与支撑管相配的套管、接线盒、支架，套管 活动套设在支撑管的另一端，支撑管的外端面设有电极，套管的内端面也设有电极， 在支撑管和套管之间还设有一使支撑管外端面与套管内端面始终保持接触趋势的拉 簧，所述的支撑管内至少设有两根引线，所述的套管侧部开有一以供试样放置于支撑 管外端面与套管内端面之间的槽口。测试时，只需将片状试样夹于支撑管外端面与套 管内端面之间，使用方便，利用拉簧的拉力又保证试样电极与支撑管及套管上的电极 接触良，还可同时测试多个试样。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障