| 专利名称 | 测量材料非线性电极化率的方法 | 申请号 | CN200810100819.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101515006 | 公开（授权）日 | 2009.08.26 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 戚桂村;杨延莲;严昊;关丽;裘晓辉;王琛 | 主分类号 | G01R29/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R29/00(2006.01)I;G01R25/02(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01N13/10(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 专利有效期 | 测量材料非线性电极化率的方法 至测量材料非线性电极化率的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种测量材料非线性电极化率系数的方法，包括以下步 骤：a)使用具有导电针尖的扫描探针显微镜，在抬高模式下对待测样品 表面进行扫描；b)测量驱动针尖振荡的激励交变信号和针尖实际振荡信 号之间的相位角差值Δθ随针尖偏压Vt的变化；c)解释测量得到的Δθ与Vt 以获取待测样品的电极化率系数；本发明通过利用CSPM，可以对材料在纳 米范围内的非线性电极化率系数进行测量，对于研究材料的非线性具有非常 重要的意义，这是一种新的测量材料非线性电极化率系数的手段，由于SPM 的高分辨率，可以实现对非均匀样品的在针尖曲率半径尺寸面积的逐点测 量，也可以实现纳米区域内的测量。 |
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