| 专利名称 | 纳米复合探针及其用于基因芯片膜转印的检测方法 | 申请号 | CN201010156014.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101812529A | 公开（授权）日 | 2010.08.25 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 景奉香;李海燕;贾春平;金庆辉;赵建龙 | 主分类号 | C12Q1/68(2006.01)I | IPC主分类号 | C12Q1/68(2006.01)I;C12R1/32(2006.01)N | 专利有效期 | 纳米复合探针及其用于基因芯片膜转印的检测方法 至纳米复合探针及其用于基因芯片膜转印的检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种纳米复合探针及其在基因芯片膜转印的检测方法，其特征在于所述的纳米复合探针为三条探针共同标记的纳米颗粒，其中所述的三种探针分别为检测探针DP2和两种长短不同的信号探针SP1和SP2，三种探针的长度DP2≥SP1＞SP2，且SP1碱基长度比SP2长10mer以上；DP2、SP1和SP2混合的比例为DP2/(SP1+SP2)＝1∶5-1∶30，其中SP1与SP2的比例在1∶5-1∶30之间。所述的三条探针共同标记纳米颗粒所形成的空间立体结构降低杂交及生物素——键亲和素反应的空间位阻，提高检测灵敏度。采用杂交和显色的方法用于检测合成靶DNA分子和结核分枝杆菌，具有灵敏度高和探眼可分辨的特点。 |
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