| 专利名称 | 用于检测伽马射线谱仪精确度的方法和系统 | 申请号 | CN201010296716.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101982795A | 公开（授权）日 | 2011.03.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家天文台 | 发明（设计）人 | 张力岩;马涛;常进;李春来 | 主分类号 | G01V13/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01V13/00(2006.01)I;G01V5/00(2006.01)I | 专利有效期 | 用于检测伽马射线谱仪精确度的方法和系统 至用于检测伽马射线谱仪精确度的方法和系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于检测伽马射线谱仪精确度的方法和系统，该方法包括：利用伽马射线谱仪在预定的试验环境下探测试验样品，获得探测数据；根据获取的探测数据分析出伽马射线谱仪从所述试验样品中探测的元素含量；利用所得元素含量与试验样品中元素含量的标准值进行比较，根据比较结果判断所述伽马射线谱仪是否具备元素探测能力。所述系统包括伽马射线谱仪、数据采集设备、数据分析设备、比较设备和显示设备。利用本发明的方法和系统，能够在将伽马射线谱在用于月球探测等领域之前，获知其探测元素的能力，从而确保在使用伽马射线谱仪时数据的准确性。 |
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