一种JTAG模块及应用该模块的调试方法

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专利名称 一种JTAG模块及应用该模块的调试方法 申请号 CN200410003197.0 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN1661385 公开(授权)日 2005.08.31 申请(专利权)人 联想(北京)有限公司 发明(设计)人 谢巍;王新成 主分类号 G01R31/28 IPC主分类号 G01R31/28 专利有效期 一种JTAG模块及应用该模块的调试方法 至一种JTAG模块及应用该模块的调试方法 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明提供了一种JTAG模块,其核心是在JTAG 模块中增加一安全模块,该安全模块接收JTAG模块中测试访 问端口(TAP)的指令,并将接收到的指令传送给相应的寄存器 或测试访问端口控制器。同时,本发明还提供了一种应用上述 JTAG模块的调试方法,当需要调试时,首先将安全模块关闭, 然后再进行正常的调试工作,此时安全模块不干预芯片的测试 与开发流程从,当调试工作完成后,开启安全模块,从而关闭 JTAG边界扫描测试结构中的测试访问端口,即封闭JTAG接 口中的时钟,输入,输出信号,从而使攻击者无法利用JTAG 口获取SOC芯片内部的数据,因而解决了针对SOC的可测性 与可控性及安全性的矛盾。

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