| 专利名称 | 提高光束偏振度测量精度的方法 | 申请号 | CN201010259354.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101949734A | 公开（授权）日 | 2011.01.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李中梁;王向朝;唐锋 | 主分类号 | G01J4/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J4/00(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I | 专利有效期 | 提高光束偏振度测量精度的方法 至提高光束偏振度测量精度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种提高光束偏振度测量精度的方法，使用的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，待测光束平行于系统光轴入射至所述的相位延迟器件和检偏器，并由所述的光电探测器探测，该光电探测器输出的电信号送入所述的信号处理系统进行数据处理，其特点在于，根据所述的待测光束的偏振方向，调整所述的检偏器的透光轴方向与所述的待测光束的偏振方向平行或垂直后，再进行待测光束的偏振度的测量。根据光电探测器探测到的光强得到待测光束的斯托克斯参数和偏振度。本发明可以提高偏振度的测量精度。 |
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