| 专利名称 | 一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法 | 申请号 | CN201010256391.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN101949688A | 公开（授权）日 | 2011.01.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明（设计）人 | 李斌成;曲哲超;刘卫静;韩艳玲 | 主分类号 | G01B11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法 至一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种基于光腔衰荡光谱技术的可调谐激光器线宽测量方法，属于光电工程技术领域。其特征在于：被测可调谐激光束入射到两块平凹高反射镜组成的稳定谐振腔，腔内充有在可调谐激光器输出波段内有较强吸收谱线的气体。调谐激光器输出波长，使其扫过一个完整的气体吸收峰。由于气体的吸收强度与入射光波长有关，在入射光波长不同时，衰荡腔输出信号的衰荡时间就不同。分别测量腔内有气体吸收时各波长处的光腔衰荡时间，进而可得到不同激光波长处的气体吸收系数，即吸收光谱图，该光谱图实际上是入射光谱与气体吸收光谱的卷积，通过拟合得出的该光谱曲线线宽和HITRAN数据库中所给的气体吸收线宽，即可得到激光器输出光谱线宽。本发明提出了激光器线宽测量的新方法，其测量结果不受激光器强度波动的影响，并且具有结构简单，测量精度高等优点。 |
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