| 专利名称 | 对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置 | 申请号 | CN02286529.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN2583668 | 公开（授权）日 | 2003.10.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学技术大学 | 发明（设计）人 | 高琛;罗震林 | 主分类号 | G01N23/20 | IPC主分类号 | G01N23/20;G01N23/223 | 专利有效期 | 对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置 至对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 本实用新型是一种对组合样品的结构和成分进 行测量分析的装置，它涉及利用X射线衍射、X射线荧光技术 对结构和成分进行测量分析的装置。X射线源1、X射线透镜 3、样品台7及其控制电路、能量探测器9及其测量电路等均 置于仪器平台13上，X射线源与X射线透镜形成入射光路， 能量探测器位于衍射光路上。将X射线源发出的发散白光X 射线通过X射线透镜聚焦成准平行的微会聚束照射到样品台 上，平移样品台使被测样品6位于该焦点，然后用能量探测器 接收从被测样品上衍射的X射线和发射的荧光X射线，再传 输到计算机12中进行数据处理，得到衍射谱和荧光光谱，从 而分析出结构和成分。本实用新型操作简单，测量速度较快， 能够适用于各种组合样品。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障