| 专利名称 | 超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法 | 申请号 | CN201010616164.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN102162824A | 公开（授权）日 | 2011.08.24 | 申请（专利权）人 | 中科院杭州射频识别技术研发中心;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明（设计）人 | 尹应增;崔恒荣;徐明;陆云龙;孙晓玮 | 主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R27/02(2006.01)I | 专利有效期 | 超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法 至超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及超高频射频识别电子标签天线大规模生产在线测试方法，其特征在于：测试方法的步聚是：首先，通过探针末端金属小圆盘和标签天线贴芯片的焊盘处进行容性耦合；其次，将探针耦合下来的信号通过补偿巴伦进行平衡-不平衡和阻抗变换；然后，将通过补偿巴伦变换下来的信号再通过槽线反射计原理，采样提取出槽线上几个固定点的功率信息；最后，利用获得的这几个点功率信息，通过处理计算，就可获得端口加载的反射系数，从而推算出标签天线的输入阻抗。本发明的有益效果是在标签贴上芯片之前，测量出标签天线的输入阻抗，有效的降低生产成本，精确的反映出标签天线与芯片之间的匹配程度，并且适合各种类型的标签天线的测试。 |
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