| 专利名称 | 基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像系统 | 申请号 | CN201020212856.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201707438U | 公开（授权）日 | 2011.01.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 发明（设计）人 | 王焕钦;徐军;何德勇;赵天鹏;明海 | 主分类号 | G01S17/89(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S17/89(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I;G01S7/481(2006.01)I | 专利有效期 | 基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像系统 至基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像系统，采用二维LED阵列作为照明光源，每次仅有一颗LED为点亮状态，LED发射的调制光经投影透镜投射到目标的表面，光电接收器接收目标表面的散射光，测量从光源到目标之间的往返飞行时间，并由其得出点亮状态的LED深度像素值，完成单个LED深度像素值测量；再时分扫描整个二维LED阵列，重复单个LED深度像素值的测量过程，获得全部LED深度像素值并组合生成目标的深度图像；同时目标表面的散射光经二维成像透镜后由二维图像传感器获得目标二维图像；投影透镜和二维成像透镜为同一透镜；以二维图像和深度图像融合生成目标三维图像。本实用新型深度图像获取速度快，深度测量分辨率高。 |
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