| 专利名称 | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置 | 申请号 | CN200920031640.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN201408007 | 公开（授权）日 | 2010.02.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 吴易明;高立民;胡晓东;赵军丽 | 主分类号 | G01C15/10(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C15/10(2006.01)I | 专利有效期 | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置 至一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置 | 法律状态 | 授权 | 说明书摘要 | 一种直角反射棱镜法平面铅垂度检测装置，包括底座以及设置于底座上的 竖轴及码盘，竖轴及码盘与U型架连接，U型架可绕竖轴及码盘在水平面内旋 转，U型架的上端连接一横轴，还包括设置于横轴上的斜方棱镜，以斜方棱镜 的中心为坐标原点，建立坐标系OXYZ，横轴与斜方棱镜的Z轴同轴心，并能带 动斜方棱镜绕Z轴单方向旋转22.5°；斜方棱镜的两侧分别设置自准直仪和直角 反射棱镜，自准直仪发出光线经斜方棱镜和直角反射棱镜后，又能回到自准直 经纬仪；支架的底部还设置有实现斜方棱镜水平调整的水泡。本实用新型测量 精度可以控制在8″以内，同时具有测量原理简单，操作容易等优点。本实用新 型可用于直角反射棱镜装调过程中法平面铅垂度的检测。 |
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