高压二氧化碳超临界旋涂成膜系统

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专利名称 高压二氧化碳超临界旋涂成膜系统 申请号 CN200820124294.9 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN201342395 公开(授权)日 2009.11.11 申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 景玉鹏;惠瑜 主分类号 B05C9/00(2006.01)I IPC主分类号 B05C9/00(2006.01)I;B05C11/08(2006.01)I;B05D3/02(2006.01)I;C23C26/00(2006.01)I 专利有效期 高压二氧化碳超临界旋涂成膜系统 至高压二氧化碳超临界旋涂成膜系统 法律状态 授权 说明书摘要 本实用新型公开了一种高压二氧化碳超临界旋涂成膜系统,属于微电子机械设备 领域。所述系统包括密封的成膜腔,在所述成膜腔内设置有真空吸盘,所述真空吸盘 与旋转马达的转子相连接;在所述成膜腔内部还设置有加热装置;所述成膜腔通过管 路分别与外部二氧化碳钢瓶、反应气体钢瓶以及成膜液体罐相连通;此外,所述成膜 腔还连接有与外部连通的排气管。此系统可以制备各种可以旋涂成膜的薄膜以及化学 反应成膜。利用二氧化碳超临界流体的特殊性质,可以实现薄膜生长的应力可调。通 过对压力和转速的控制,实现膜厚可控。该设备的发明解决了在MEMS工艺薄膜制备过 程中残余应力大,薄厚膜制备困难等问题,可以大大推动MEMS工艺的发展。

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