一种用于超导磁体磁场分布测量装置

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专利名称 一种用于超导磁体磁场分布测量装置 申请号 CN200820124544.9 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN201322791 公开(授权)日 2009.10.07 申请(专利权)人 中国科学院电工研究所 发明(设计)人 王春忠;王秋良;戴银明 主分类号 G01R33/02(2006.01)I IPC主分类号 G01R33/02(2006.01)I 专利有效期 一种用于超导磁体磁场分布测量装置 至一种用于超导磁体磁场分布测量装置 法律状态 说明书摘要 一种用于超导磁体磁场分布测量装置,包括测量杆(1)、锁紧夹具(2)、导向套(3)、 安装板(4)、XY平移台(5)、旋转台(6),转换板(7)和探头夹具(8)。旋转台(6)安 装在转换板(7)上,XY平移台(5)安装在旋转台(6)上,安装板(4)固定在XY平移 台(5)上,导向套(3)固定在安装板(4)上,锁紧夹具(2)安装在导向套(3)端面上, 测量杆(1)穿过锁紧夹具(2)孔插入导向套(3)内孔中,穿过XY平移台(5)、旋转台 (6)和转换板(7)。探头夹具(8)安装在测量杆(1)的下端部。通过调整机构旋钮,使 测量探头在XYZ三个方向平移,以及绕Z轴360°旋转,实现在超导磁体室温孔内任意点 磁场的测量。

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